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        西安光機所高精度CCD拼接及綜合性能檢測儀通過驗收 (2004-11-22)

        發布時間:2007-12-04 作者: 來源: 瀏覽:1930
        日前,由西安光機所承擔研制的“高精度CCD拼接及綜合性能檢測儀”研制項目通過了中國科學院綜合計劃局的驗收。據悉,“高精度CCD拼接及綜合性能檢測儀”研制項目經中國科學院審核批準,作為院儀器研制項目于2002年1月正式啟動的。經過項目組全體人員近兩年的努力,按照計劃進度圓滿完成了項目研制任務?!案呔菴CD拼接及綜合性能檢測儀”由智能化復合式三坐標測量機、CCD評估板、時鐘驅動和信號處理箱三個部分組成,它主要用于CCD器件幾何參數和光電參數的測量、CCD焦平面的精密拼接和檢測,以及一般幾何尺寸和形位誤差的精密測量等工作。 驗收會上,專家組聽取了項目組的研制總結報告、經費決算報告、用戶使用報告和測試組提供的測試結果報告,并現場觀看和查驗了儀器的各項使用功能及主要技術指標,專家組經過認真質詢和討論后認為:該研制項目圓滿完成了合同任務書規定的各項技術指標和要求,儀器運行平穩,工作正常,實際使用效果良好,在科研生產中發揮了預期的重要作用,一致同意通過驗收。 該研制項目的完成和投入使用,為西安光機所承擔國家重大科研任務提供了強有力的設備支持,同時在研制工作中也培養造就了一支能夠跟蹤國內外先進計量技術和測試儀器的發展趨勢、具有堅實理論基礎和豐富實踐經驗的人才隊伍。
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